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發(fā)布時(shí)間:2014/5/7
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武漢尚測(cè)生產(chǎn)的溫濕度試驗(yàn)箱包括恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱等主要用于對(duì)電子類產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、溫濕度及其循環(huán)變化條件下,對(duì)電子類產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。所以當(dāng)一個(gè)新的產(chǎn)品研發(fā)出來(lái)時(shí)候或者某種產(chǎn)品需要發(fā)送到環(huán)境差異大的地方就需要經(jīng)過(guò)模擬環(huán)境測(cè)試,以判定電子類產(chǎn)品品質(zhì)的穩(wěn)定性能如何。標(biāo)準(zhǔn)型的溫濕度試驗(yàn)箱通常能滿足國(guó)家的規(guī)定的多個(gè)不同的標(biāo)準(zhǔn),比如GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》,GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》等,有針對(duì)電子產(chǎn)品類的標(biāo)準(zhǔn),也有其他產(chǎn)品類別的標(biāo)準(zhǔn)。
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