在日新月異的電子產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域，測(cè)試環(huán)節(jié)不僅是驗(yàn)證產(chǎn)品性能的關(guān)鍵步驟，更是確保產(chǎn)品穩(wěn)定可靠、符合市場(chǎng)需求的基石。然而，隨著電子產(chǎn)品功能的日益復(fù)雜和集成度的提高，電磁干擾（EMI）問(wèn)題日益凸顯，成為影響測(cè)試準(zhǔn)確性和研發(fā)效率的重要因素。